對于不久前曝光的iPhone 6 Plus128GB機型遭遇頻繁死機的事件,業(yè)內(nèi)分析認(rèn)為可能與設(shè)備采用的TLC NAND存儲器控制IC的缺陷有關(guān)。雖然蘋果并沒有大舉措回應(yīng),但實際情況似乎確實存在。日前有報道稱,除了頂配版iPhone 6 Plus之外,iPhone 6 64GB版本機型其實也有部分批次采用了TLC閃存。
根據(jù)外媒Gforgames報道稱,韓國一家媒體Kbench日前將新iPhone中采用的兩類NAND閃存進(jìn)行了測試對比,結(jié)果顯示MLC閃存在整體速度和閑置使用率的性能表現(xiàn)上比TLC更加出色。
Kbench針對MLC和TLC版本iPhone 6 64GB機型進(jìn)行閃存性能寫入測試,分別采用了ZeroFill(全0模式)及RandomFill(100%隨機模式)拷貝資料,進(jìn)行1K、2K逐級遞增至32768K等不同規(guī)格的大小測試,每個文件大小重復(fù)100次,測試結(jié)果令人震驚。
如上圖所示:第一個圖表為全0模式,采用TLC版本機型會針對系統(tǒng)內(nèi)存進(jìn)行動態(tài)快速存取優(yōu)化,當(dāng)系統(tǒng)進(jìn)行拷貝時會使用系統(tǒng)存儲進(jìn)行暫存,以提升TLC寫入系統(tǒng)的性能,但是當(dāng)數(shù)據(jù)大小超過一定量級后,系統(tǒng)性能會出現(xiàn)嚴(yán)重下降,已經(jīng)開啟的應(yīng)用會出現(xiàn)延遲或閃退情況。
第二個圖表為隨機模式,TLC與MLC的性能差別在此項測試中明顯擴大了,對系統(tǒng)存儲難于對付的零碎文件進(jìn)行實時動態(tài)存儲時,采用TLC閃存的機型寫入性能大幅下降。雖然采用MLC機型的表現(xiàn)也不是很理想,但在處理4K、8K、32K大數(shù)據(jù)包時的表現(xiàn)明顯更優(yōu)于TLC。而在采用MCL版本機型拷進(jìn)行貝時,系統(tǒng)內(nèi)存并沒有針對磁盤進(jìn)行快速存取,不過在數(shù)據(jù)拷貝的過程中整體表現(xiàn)穩(wěn)定平均,不會出現(xiàn)像TLC閃存大起大落的現(xiàn)象,同樣不會出現(xiàn)延遲與閃退現(xiàn)象。
第三個圖表為磁盤使用情況,在右圖的MLC版本中,當(dāng)進(jìn)行拷貝時,磁盤使用率僅有輕微的上升,并不會像左圖的TLC版本一樣突然大量占用系統(tǒng)內(nèi)存(“Inactive”部分),整個拷貝過程非常穩(wěn)定。
綜合如上情況看來,如果你買到的是MLC版本iPhone 6 64GB機型那么可以暗喜了,如果不幸買到TLC版本機型,那么只能怪運氣欠佳了。不過,近期有報道稱,蘋果將會在下一批新設(shè)備中換用MLC閃存,同時也可能會為經(jīng)鑒定存在該硬件問題的設(shè)備提供更換服務(wù),所以大家還是不用眉頭緊鎖了。
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